紫外光度计基线平直度的测试方法及影响因数
紫外可见分光光度计的基线平直度是指每个波长上的光度噪声,它是用户最关心的技术指标之一。它是紫外可见分光光度计各个波长上主要分析误差的来源之一。它决定紫外可见分光光度计在各个波长下的分析检测浓度的下限。
基线平直度的测试方法
目前,国际上对紫外可见分光光度计的基线平直度的测试方法一般是冷态开机,预热0.5h后,试样和参比比色皿都为空气,光谱带宽SBW=2nm,吸光度值为0Abs,从长波向短波方向对仪器进行全波长慢速(或中速)扫描。而后,在全波长范围内,找出峰-峰(P-P)值中最大的一点,作为该仪器的基线平直度。
影响基线平直度的主要因素
- 滤光片或光学元件上有灰尘此时会产生散射,从而引起基线平直度变坏。
- 滤光片未安装好用于不同波段不同的滤光片切换时会产生噪声,使基线平直度变坏。
- 光源(氘灯、钨灯)切换时产生噪声一般在340~360nm左右出现,从而使基线平直度变坏。
- 基线平直度测试时扫描速度太快也会使基线平直度变坏。笔者对北京普析通用公司生产的TU-1901紫外可见分光光度计的基线平直度进行了测试,发现慢速扫描时基线平直度为±0.0005Abs,中速和快速扫描时,基线平直度分别为±0.0014Abs和±0.0035Abs。所以,国际上约定,测试紫外可见分光光度计的基线平直度时,扫描速度都用慢速。
- 电子学方面的噪声过大也会直接影响基线平直度,特别是放大器和光电转换元件的噪声,对基线平直度的影响更大。
- 光学部分未调整好特别是单色器的光路未调整好,会使信号减小,信噪比变小,使基线平直度变坏。
- 环境因素包括振动、电场、磁场干扰、电压不稳等,都会使基线平直度变坏。
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